產(chǎn)品列表
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參數(shù)
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通過(guò)簡(jiǎn)單的指令構(gòu)建復(fù)雜的耐久性測(cè)試方案。運(yùn)行測(cè)試流程,并監(jiān)控試樣上各種物理量的發(fā)展情況。
滿足試驗(yàn)前期的各種準(zhǔn)備工作。如傳感器通道校準(zhǔn)、獲取結(jié)構(gòu)耦合特性、控制器特性的各類仿真圖譜分析、控制參數(shù)優(yōu)化。
完整的測(cè)試系統(tǒng)和豐富的輸出組件,基于FPGA/DSP的實(shí)時(shí)控制系統(tǒng)。… 詳細(xì)資料
電子束系統(tǒng):電子槍類型:高亮度肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍,分辨率:1.2 nm@15 kV,加速電壓:20 V ~ 30 kV;
離子束系統(tǒng):離子源類型:液態(tài)鎵離子源,分辨率 :3 nm@30 kV,加速電壓 500 V ~ 30 kV
DB550是一款優(yōu)雅全能的納米分析和制樣工具,低電壓高分辨的電子鏡… 詳細(xì)資料
放大倍率:1X-2,500,000X分辨率:1.0nm@15kv
SEM5000pro是低電壓高分辨的熱場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡,使用了高壓隧道技… 詳細(xì)資料
放大倍率:1X-300,000X,分辨率:2.5nm@20kV
SEM3300 是全新一代鎢燈絲掃描電鏡,將高壓隧道技術(shù)(Super-Tunne… 詳細(xì)資料





